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Xstress3000殘余應力分析儀如何檢測殘余奧氏體含量呢?
X射線(xiàn)照射鐵素體和奧氏體時(shí)都會(huì )產(chǎn)生衍射,其衍射峰的強度與各相體積分數成正比,因此Xstress3000殘余應力分析儀通過(guò)各衍射峰的強度對比可以分析計算出殘余奧氏體的百分含量。
Xstress3000殘余應力分析儀采用四峰法自動(dòng)測量殘余奧氏體含量,精度優(yōu)于1%。相比較于傳統的金相法等手段,四峰法具有無(wú)損、快速和精確等特性。
鐵素體峰
奧氏體峰
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